دانلود کتاب Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV: Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13–19, 1983
| عنوان فارسی | طیف سنجی جرمی یون ثانویه SIMS IV: مجموعه مقالات چهارمین کنفرانس بین المللی، اوزاکا، ژاپن، 13 تا 19 نوامبر 1983 |
|---|---|
| عنوان اصلی | Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS IV: Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13–19, 1983 |
| ویرایش | [1 ed.] |
| ناشر | Springer-Verlag Berlin Heidelberg |
| نویسنده | P. Sigmund (auth.), Professor Dr. A. Benninghoven, Professor Dr. J. Okano, Professor Dr. R. Shimizu, Dr. H. W. Werner (eds.) |
| ISBN | 9783642822582, 9783642822568 |
| سال نشر | 1984 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 506 [517] |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 13 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی