دانلود کتاب Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization
| عنوان فارسی | طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح |
|---|---|
| عنوان اصلی | Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization |
| ناشر | Momentum Press |
| نویسنده | Fred Stevie |
| ISBN | 1606505882, 9781606505892 |
| سال نشر | 2016 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 290 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 44 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد