دانلود کتاب Reliability of multiphysical systems set. Volume 2, Nanometer-scale defect detection using polarized light
| عنوان فارسی | قابلیت اطمینان مجموعه سیستم های چندفیزیکی جلد 2، تشخیص عیب در مقیاس نانومتر با استفاده از نور پلاریزه |
|---|---|
| عنوان اصلی | Reliability of multiphysical systems set. Volume 2, Nanometer-scale defect detection using polarized light |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Wiley-ISTE |
| نویسنده | Dahoo, Pierre Richard; El Hami, Abdelkhalak; Pougnet, Philippe |
| ISBN | 1848219369, 1119329655 |
| سال نشر | 2016 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 317 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 10 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد