دانلود کتاب Oxide Reliability: A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breadown, and Reliability (Selected Topics in Electronics and Systems)
| عنوان فارسی | قابلیت اطمینان اکسید: خلاصه ای از فرسودگی، شکست و قابلیت اطمینان اکسید سیلیکون (موضوعات انتخاب شده در الکترونیک و سیستم ها) |
|---|---|
| عنوان اصلی | Oxide Reliability: A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breadown, and Reliability (Selected Topics in Electronics and Systems) |
| ناشر | |
| نویسنده | D. J. Dumin |
| ISBN | 9810248423, 9789812778062 |
| سال نشر | 2002 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 281 |
| دسته | الکترونیک |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 14 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های مرتبط