جسجتو در بین میلیونها کتاب

دانلود نامحدود

دانلود نامحدود

ساعات پشتیبانی تلفنی

پشتیبانی از ساعت 7 تا 23

ضمانت بازگشت وجه

ضمانت بازگشت وجه

دانلود کتاب New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices

رویکردهای جدید برای تجزیه و تحلیل شکست مبتنی بر پردازش تصویر دستگاه‌های ULSI در مقیاس نانو
عنوان فارسی

رویکردهای جدید برای تجزیه و تحلیل شکست مبتنی بر پردازش تصویر دستگاه‌های ULSI در مقیاس نانو

عنوان اصلیNew Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices
ویرایش1
ناشرWilliam Andrew
نویسندهZeev Zalevsky, Pavel Livshits and Eran Gur (Auth.)
ISBN 9780323241434
سال نشر2014
زبانEnglish
تعداد صفحات104
فرمت کتابpdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل7 مگابایت

* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.

وضعیت : موجود

قیمت : 84,000 تومان

دانلود بلافاصله بعد از پرداخت امکان پذیر است

میانگین امتیاز:
از 0 رای

مشاهد کتاب در آمازون
توضیحات فهرست مطالب اطلاعات قبل از خربد

نحوه دریافت کتاب

این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.

ورود به حساب کاربری

نام کاربری کلمه عبور

رمز عبور را فراموش کردی؟ کلیک کن

حساب کاربری نداری؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری آدرس ایمیل شماره موبایل کلمه عبور