دانلود کتاب Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
| عنوان فارسی | ترموگرافی قفل: اصول و کاربرد برای ارزیابی وسایل و مواد الکترونیکی |
|---|---|
| عنوان اصلی | Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials |
| ویرایش | 2 |
| ناشر | Springer-Verlag Berlin Heidelberg |
| نویسنده | Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp (auth.) |
| ISBN | 9783642024160, 3642024165 |
| سال نشر | 2010 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 257 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 6 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد