دانلود کتاب Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Appliaitions
| عنوان فارسی | طیف سنجی طول عمر: روشی برای مشخص کردن نقص در سیلیکون برای کاربردهای فتوولتائیک |
|---|---|
| عنوان اصلی | Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Appliaitions |
| ناشر | |
| نویسنده | Rein S. |
| ISBN | |
| سال نشر | 2005 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 0 |
| فرمت کتاب | rar - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 7 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد