دانلود کتاب Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach
| عنوان فارسی | سازگاری سطحی در میکروالکترونیک: دور شدن از رویکرد آزمایش و خطا |
|---|---|
| عنوان اصلی | Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer-Verlag London |
| نویسنده | Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti (auth.) |
| ISBN | 1447124693, 9781447124696 |
| سال نشر | 2012 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 228 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 6 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی