دانلود کتاب Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
| عنوان فارسی | قابلیت اطمینان داغ از مدارهای MOS VLSI |
|---|---|
| عنوان اصلی | Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer US |
| نویسنده | Yusuf Leblebici, Sung-Mo (Steve) Kang (auth.) |
| ISBN | 9781461364290, 9781461532507 |
| سال نشر | 1993 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 222 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 7 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی