دانلود کتاب Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations
| عنوان فارسی | مبانی میکروسکوپ نیروی اتمی: بخش اول: مبانی |
|---|---|
| عنوان اصلی | Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations |
| ناشر | World Scientific Publishing Co |
| نویسنده | Ronald Reifenberger |
| ISBN | 9814630349, 9789814630344 |
| سال نشر | 2016 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 341 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 13 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی