دانلود کتاب Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy
| عنوان فارسی | ارزیابی مواد نیمه هادی پیشرفته توسط میکروسکوپ الکترونی |
|---|---|
| عنوان اصلی | Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer US |
| نویسنده | Rob W. Glaisher, J. C. Barry, David J. Smith (auth.), David Cherns (eds.) |
| ISBN | 9781461278504, 9781461305279 |
| سال نشر | 1990 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 412 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 15 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی