دانلود کتاب Delay Fault Testing for VLSI Circuits
| عنوان فارسی | تأخیر تست خطا برای مدارهای VLSI |
|---|---|
| عنوان اصلی | Delay Fault Testing for VLSI Circuits |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer US |
| نویسنده | Angela Krstić, Kwang-Ting Cheng (auth.) |
| ISBN | 9781461375616, 9781461555971 |
| سال نشر | 1998 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 200 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 8 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی