دانلود کتاب Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices
| عنوان فارسی | نقص در پشته های دی الکتریک دروازه High k: دستگاه های نیمه هادی نانو الکترونیکی |
|---|---|
| عنوان اصلی | Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer Netherlands |
| نویسنده | MASAAKI NIWA, RIICHIROU MITSUHASHI (auth.), Evgeni Gusev (eds.) |
| ISBN | 9781402043659, 9781402043673 |
| سال نشر | 2006 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 493 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 26 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی