دانلود کتاب Computed Electron Micrographs and Defect Identification
| عنوان فارسی | میکروگراف های الکترونیکی محاسبه شده و شناسایی نقص |
|---|---|
| عنوان اصلی | Computed Electron Micrographs and Defect Identification |
| ناشر | Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S |
| نویسنده | A.K. HEAD, P. HUMBLE, L.M. CLAREBROUGH, A.J. MORTON and C.T. FORWOOD (Eds.) |
| ISBN | 9780720417579 |
| سال نشر | 1973 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 1-400 [400] |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 12 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی