دانلود کتاب Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000: International Conference (AIP Conference Proceedings)
| عنوان فارسی | خصوصیات و اندازه شناسی برای فناوری ULSI 2000: کنفرانس بین المللی (مجموعه مقالات کنفرانس AIP) |
|---|---|
| عنوان اصلی | Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000: International Conference (AIP Conference Proceedings) |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | American Inst. of Physics |
| نویسنده | David G. Seiler, Alain C. Diebold, Thomas J. Shaffner, Robert McDonald, W. Murray Bullis, Patrick J. Smith, Erik M. Secula |
| ISBN | 156396967X, 9781563969676 |
| سال نشر | 2001 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 205 |
| فرمت کتاب | djvu - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 6 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی