دانلود کتاب Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
| عنوان فارسی | خصوصیات مقیاس اتمی و مطالعات اصول اولیه رابط های Si₃N4 |
|---|---|
| عنوان اصلی | Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces |
| ویرایش | 1 |
| ناشر | Springer-Verlag New York |
| نویسنده | Weronika Walkosz (auth.) |
| ISBN | 144197816X, 9781441978165 |
| سال نشر | 2011 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 122 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 3 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی