دانلود کتاب Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
| عنوان فارسی | طیف سنجی جرمی یون ثانویه با وضوح بالا (SIMS) در تجزیه و تحلیل سطح |
|---|---|
| عنوان اصلی | Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse |
| ناشر | VS Verlag für Sozialwissenschaften |
| نویسنده | Prof. Dr. Günther von Bünau, Dr. Klaus-Dieter Klöppel (auth.) |
| ISBN | 9783531030494, 9783322875280 |
| سال نشر | 1981 |
| زبان | German |
| تعداد صفحات | 26 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 2 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد
نحوه دریافت کتاب
این کتاب نسخه زبان اصلی است و ترجمه فارسی نیست.بعد از تکمیل فرایند خرید می توانید کتاب را دانلود نمایید. درصورت نیاز به تغییر فرمت کتاب به پشتیبان اطلاع دهید.کتاب های تصادفی