دانلود کتاب IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
| عنوان فارسی | استاندارد IEEE برای پورت دسترسی تست با پین کاهش یافته و عملکرد پیشرفته و معماری اسکن مرزی |
|---|---|
| عنوان اصلی | IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture |
| ناشر | IEEE |
| نویسنده | IEEE Test Technology Standards Committee |
| ISBN | 9781504488754 |
| سال نشر | 2022 |
| زبان | English |
| تعداد صفحات | 1048 |
| فرمت کتاب | pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها |
| حجم فایل | 29 مگابایت |
* نکته : همۀ کتاب های موجود در وبسایت زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه فارسی موجود نمی باشد.
توضیحات
فهرست مطالب
اطلاعات قبل از خربد